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장비

주사전자현미경(SEM)

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보유기관명	인하대학교
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명
시설장비 설명	특징 1. Resolution: 3.0nm guaranteed ( High vacuum mode )Resolution: 4.0nm guaranteed ( Low vacuum mode ) 2. Magnifications x5 to x300000 3.Acceleratingvoltage:0.3-30kV ( 1171 steps ) 4. Electron Optics Filament Tungsten (W) hairpin type BiasSystem:QuardrantBias(HitachiPatent) Auto-bias (Continuous Variable) Linked with acc. voltage plus continuous voltage control 5. Specimenstage-largeeucentric5axismotordrive X: 100 mm Y: 50 mm Z: 5 to 65mm T: -20 to +90˚ R: 360˚(continuous) z: 200 mmΦ활용분야 섬유의 단면 및 모폴로지 관찰
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200910/.thumb/20091014163515.jpg
장비위치주소	인천 남구 용현1,4동 인하대학교 253 인하대학교 2호관 6층 북667
NFEC 등록번호	NFEC-2008-07-079787
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0008963
첨부파일