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장비

원자현미경

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보유기관명	한국화학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A208
표준분류명	기타장비
시설장비 설명	탐침과 물체사이에 존재하는 물리적 상호작용과 표면의 형태를 nm단위의 극미세(원자 혹은 분자) 단위로 관찰할 수 있으며 용역내에서도 사용 가능하며 표면의 마찰력 자기장 전기장 혹은 전도성 등의 물리적/화학적 성질을 측정할 수 있음. AFM은 나노기술로 제조된 Probe를 사용하는데 이 Prove는 Prove의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침(tip)을 붙임. 이 Probe tip의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러 가지 힘이 샘플 표면의 원자와 tip 끝의 원자 사이에 작용하는데 이 힘에 의해 cantilever의 휘어짐이 발생하고 이 힘이 일정하게 유지되도록 하면서 귀환회로에 의해 정밀 제어 하면서 각 지점(x,y)에서 스캐너의 수직위치를 저장하여 샘플 표면의 삼차원 영상을 얻을 수 있음.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/HpnD4rWYfTtmITH5q9R1_w600.jpg
장비위치주소	신뢰성평가센터
NFEC 등록번호	NFEC-2012-08-171077
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_chem-00027
첨부파일