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장비

전계방사형 주사전자현미경

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보유기관명	한국화학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명	기타장비
시설장비 설명	전자빔을 물질에 주사할 때 발생하는 2차 전자를 이용하여 물질의 표면을 관찰하는 원리임. 이 장비의 가장 큰 특징은 낮은 가속전압 하에서 고해상도의 이미지를 얻을 수 있다는데 있으며 이는 높은 가속전압 하에서 시료 표면의 손상이 일어나기 쉬운 유기재료(고분자 등)의 관측과 표면의 섬세한 구조를 관측하는데 유리한 장비임을 의미함. 기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 시료의 표면 관찰 및 구성 원소의 분석에 활용됨.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/voXWjs46V4WNKOZ672mq_w600.jpg
장비위치주소	10연구동 310호
NFEC 등록번호	NFEC-2011-02-140427
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_chem-00031
첨부파일