| 시설장비 설명 |
X-선 회절상을 이용한 성분 분석 및 결정 구조 분석, 결정 크기를 측정하고, X-선이 결정체에 입사되면 Bragg 법칙에 의해 회절됨. 회절된 X-선의 피크 위치, 면간 거리, 피크 강도 등의 데이터를 통하여 격자상수, 성분의 정성/정량분석, 결정크기, 결정 배향성 등의 정보 제공함.
X-선의 파장은 대략 0.01～100Å이나 X-선 회절분석에 이용되고 있는 X-선의 파장은 0.5～2.5Å 정도의 범위임. X-선이 물질에 입사할 때 그 일부는 물질의 원자에 의해 모든 방향으로 산란되며, 원자가 3차원적으로 규칙적으로 배열되었을 때는 회절현상을 나타남. 즉 결정면 간격 d를 가진 결정면이 파장λ의 X-선을 반사할 때, 서로 이웃된 결정면에서 반사되는 2개의 파는 2dsinθ로 표시되는 길이의 광로차를 갖게됨. 이 광로차가 X-선 파장의 정수배일 때 반사된 X-선은 위상이 일치되어 강해지고, 그 외의 경우는 흐트러져 약해짐. 결국 X-선은 결정에서 Bragg 법칙 (nλ= 2dsinθ)을 만족시키며 일정한 방향으로 회절하게됨. |
