고분해능 X-선 회절분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | PANalytical |
모델명 | X'Pert PRO Multi Purpose X-Ray Diffractometer |
장비사양 | |
취득일자 | 2008-04-01 |
취득금액 |
보유기관명 | 전남대학교 공동실험실습관 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B520 |
표준분류명 | 물리·재료장비 |
시설장비 설명 | 특징 시료의 표면에 특성 X-Ray Beam을 입사시키면 시료 결정면의 회절현상에 의해 특성 X-Ray Beam이 회절되어 나오고, 이 회절된 특성 X-Ray Beam의 각도 및 크기를 이용하여 시료dml 결정구조, 결정립크기, 응력, 박막의 두께 등을 알 수 있음. |
장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/OtrrVrnzOlve9jfI5CFl_w600.jpg |
장비위치주소 | 전남대학교 공동실험실습관 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2009-12-077622 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-CCRF-00011 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |