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장비
장비 및 시설 기본정보
주사투과전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JEM-2100F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 나노종합기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 200kV의 가속전압을가지는 전계방출형투과전자현미경으로 가속된 전자가 시편을 통과하여 발생하는 상호작용을 이용하여 원자분해능을 가지고 미세구조 분석 전자회절을 이용한 결정구조 분석 그리고 에너지분산분광기를 이용한 원소분석이 나노영역에서 동시에 가능한 장비임. |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161025142535_20091019000000047785 NFEC-2009-10-074876.jpg |
| 장비위치주소 | 카이스트 부설 나노종합기술원 나노종합기술원 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-074876 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/read/Z-201901255347?cloudId=200711140047 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |