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장비

전계방출형 전자현미경

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보유기관명	한국화학연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명	기타장비
시설장비 설명	반도체, 고분자, 박막재료, 촉매, 금속, 섬유 등 모든 고체의 표면 형태 관찰 및 구성 원소의 성분 분석에 이용하고 전자빔을 물질에 주사할 때 발생하는 2차 전자를 이용하여 물질의 표면을 관찰하며, 에너지 분산형 X-선 형광분석기를 부착하여 구성 원소의 성분을 분석함. 기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 시료의 표면 관찰 및 구성 원소의 분석에 활용됨.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/5Ot8ovzkLIC3DFPCFJqx_w600.jpg
장비위치주소	화학분석센터
NFEC 등록번호	NFEC-2012-01-152322
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_analy-00026
첨부파일