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장비
장비 및 시설 기본정보
FT-IR Imaging 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | IFS66v/s Hyperion3000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 나노종합기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B502 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 물질의 적외선 흡수투과 및 반사율을 측정하여 반도체 유기물 및 금속 산화물 등의 결합 구조와 성분 분석이 가능하며 현미경이 장착되어 있어서 특정 영역의 오염 및 불량 분석에 유용함. |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201405/20140514105122113.jpg |
| 장비위치주소 | 카이스트 부설 나노종합기술원 나노종합기술원 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-047860 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/read/Z-201901255352?cloudId=200711140047 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |