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장비
장비 및 시설 기본정보
탁상용 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Fei |
| 모델명 | FEI XL-30 FEG |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-09-15 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 본 장비인 SEM은 Electron beam이 sample의 표면에 주사하면서 sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Elecron)를 이용해서 샘플의 표면을 관찰하는 장비이다. 광학현미경을 이용한 전체 사진과 전자 현미경을 이용한 미세구조 사진을 모두 찍을 수 있다.본 장비의 구성 및 성능은 SEM은 가속 전자빔을 광원으로 하여 자기 렌즈를 사용하고 가속 전자와 고체 표면의 반응으로 발생되는 2차 전자를 전자검출기로 검출하여 스크린에 영상화한다. 이때 가속 전자빔을 TV스크린에서처럼 시료의 표면에 주사시키고 동시에 검출된 2차 전자 신호도 디스플레이에 해당하는 위치로 주사하여 영상으로 나타낸다.본 장비의 사용예로는 - 분말 및 박막의 미세구조 관찰 - 금속 세라믹 고분자 소재의 벌크 시료 및 코팅층의 미세구조 관찰 - 작은 설치 공간이 필요하며 빠른 처리가 요구되는 시편관찰에 사용 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201407/.thumb/20140721103341237.JPG |
| 장비위치주소 | 경남 창원시 성산구 상남동 66번지 재료연구소 연구 1동 4층 1439 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-11-076229 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0014635 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |