반도체 특성 분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Agilent Technologies |
모델명 | 4156 |
장비사양 | |
취득일자 | 2005-09-09 |
취득금액 |
보유기관명 | 가천대학교 글로벌캠퍼스 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | C514 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | null구성 및 성능 - Agulent 4156C semiconductor parameter analyzer - Calibration Warranty - Repair Service Warranty활용분야 반도체 소자의 특성 평가 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200712/.thumb/20071228151713.jpg |
장비위치주소 | 경기 성남시 수정구 복정동 산 65-2 가천대학교 글로벌캠퍼스 새롬관 1층 110 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-053306 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0013171 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |