| 보유기관명 |
전자부품연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
D102 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
1.Measurable range:Er 1~15(1~30 cavity type) 2.± 1% Er 및 ± 5% tanδ 3.1~10GHz Er tanδ 측정 4. Plate film & long film(cavity)의 유전 특성 측정유전 특성 측정 활용분야에서 range:Er 1~15(1~30)의 범위로 cavity Dielectric Property Measurements of material 재료의 유전특성 측정Dielectric Property Measurements of material 재료의 유전특성 측정 |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/itep200710/.thumb/1165510166_1.jpg |
| 장비위치주소 |
경기 성남시 분당구 야탑동 68번지 전자부품연구원 전자부품연구원 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-10-007815 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0001590 |
| 첨부파일 |
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