| 초록 |
본 발명에 따른 합금화 용융 아연 도금 강판의 합금상 분율 및 합금화도 측정용 X선 광학계는, X선을 발생시키는 X선 튜브(1); 합금화 용융 아연 도금 강판(3)의 피막을 구성하는 FE-ZN 금속간 화합물 중 에타상의 X선 회절강도를 측정하는 검출기(15); 제타상의 X선 회절강도를 측정하는 검출기(16); 델타상의 X선 회절강도를 측정하는 검출기(17); 감마상의 X선 회절강도를 측정하는 검출기(18); 저각 백그라운드에 대한 X선 회절 강도를 측정하는 검출기(18); 고각 백그라운드에 대한 X선 회절 강도를 측정하는 검출기(12); 상기 에타, 제타, 델타, 감마상의 검출기들(14, 15, 16, 17)에 의해 얻어진 상기 X선 회절 강도의 값에서 상기 고각 및 저각 백그라운드에 대한 X선 회절 강도 값을 제외함으로써, 상기 에타, 제타, 델타, 감마상에 대한 순수한 X선 회절 강도 값만을 이용하여 각 상의 합금상 분율 및 합금화도를 계산하는 연산장치(도시되지 않음)를 포함하는 것을 특징으로 하고,본 발명에 의하면, 정확하고, 순수한 각 상별 X선 회절 강도를 온라인 상에서 얻을 수 있고, X선 회절강도를 이용하여 합금상 분율 및 합금화도, 그리고 합금화 용융 아연 도금 강판의 도금량을 측정할 수 있게 된다. |
