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특허 실용신안

특허/실용신안

다중 판독을 통해 비-휘발성 메모리에서 노이즈의 영향을 감소시키는 방식

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 쌘디스크 코포레이션
출원번호 10-2003-0001616
출원일자 2003-01-10
공개번호 20080509
공개일자 2011-12-12
등록번호 10-1092882-0000
등록일자 2011-12-06
권리구분 KPTN
초록 저장 엘리먼트들을 여러번 판독하고 그 결과는 누적되며 판독의 품질에 역으로 영향을 끼치는 저장 엘리먼트 및 관련 회로의 노이즈 효과 또는 다른 과도 현상을 감소시키도록 각 저장 엘리먼트에 대해 평균화된다. 다음을 포함하여 몇가지 기술이 사용된다: 평균화를 제어기에 의해 수행하여, 각 반복중에 저장 디바이스에서 제어 디바이스로 데이터의 완전한 판독 및 전달; 평균화를 저장 디바이스의해 수행하여, 각 반복중에 데이터의 완전한 판독, 및 최종 결과가 획득될 때 까지 제어기로 어떠한 전달도 없음; 1회의 완전한 판독에 뒤이어 다수의 더 빠른 재-판독은 완전한 판독을 회피하도록 기설정된 상태 정보를 이용하며, 다음으로 지능형 알고리즘은 저장 엘리먼트가 감지되는 상태를 가이드함. 이들 기술은 시스템 특성에 따라 연산의 정규 모드로서 사용되거나, 또는 예외 조건으로 수반된다. 신호 평균화의 유사한 형태는 프로그래밍의 검증 위상중에 사용된다. 이 기술의 실시예는 피크-검출 방식을 사용한다. 이러한 시나리오에서, 몇가지 검증 검사는 저장 엘리먼트가 타겟 상태에 도달하였는지를 결정하기 이전의 상태에서 수행된다. 일부 소정 부분의 검증이 실패한다면, 저장 엘리먼트는 부가적인 프로그래밍을 수신한다. 이들 기술은 다양한 노이즈 소스의 존재시 저장 엘리먼트 당 더 많은 상태를 시스템이 저장하도록 허용한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020030001616
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